為什么X射線熒光鍍層測厚儀有時會出現測量誤差？

測量對象引入的測量誤差主要包括以下幾方面：

1、覆蓋層厚度的影響

2、基體金屬磁性的影響

3、基體金屬厚度的影響

4、材料的邊緣效應的影響

5、基體金屬機械加工方向的影響

6、基體金屬剩磁的影響

7、基體金屬曲率的影響

8、基體金屬表面粗糙度的影響

對上述因素產生的測量誤差分析如下：

1、對于較薄的覆蓋層，由于受X熒光鍍層測厚儀本身測量精度和覆蓋層表面粗糙度的影響，較難準確測量覆蓋層厚度，尤其是當覆蓋層厚度小于5μm的情況；對于較厚的覆蓋層，其測量結果相對誤差近似為一常數，誤差隨覆蓋層厚度增加而增大。

2、不同鐵磁性材料或同一鐵磁性材料采用不同的熱處理方式和冷加工工藝后，其磁特性均有較大差異，而材料的磁特性差異會直接影響對磁鐵或檢測線圈的磁作用，為減小或消除磁特性差異產生的影響，應采用磁特性與試樣基體相同或相近的金屬材料做為基體對儀器校準。

3、由于磁場在鐵磁性基體材料中的分布狀態在一定范圍內與基體厚度密切相關，當基體厚度達到某臨界厚度時，這種影響才能減小或忽略。若試樣基體厚度小于臨界厚度時，應通過化學方法除去試樣的局部覆蓋層，利用試樣基體對儀器校準。

X射線熒光分析測厚儀能提供：鍍層厚度和元素分析功能,不但性能優越,而且價格優惠。分析鍍層厚度和元素成份同時進行，只需數秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結果，多層鍍層的厚度測量也一樣能勝任。輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實用，準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的首要選擇。

Cube系列可測量各類金屬、合金單層及多層的鍍層厚度、電鍍液中金屬離子的含量和合金元素成份及含量。

ACZET系列X射線熒光分析測厚儀特點：

ACZET系列X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術，該技術已經被證實并且得到廣泛應用，可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體，元素范a圍包括從元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的樣品艙。

產品功能：

1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。

2. 鍍層層數：多至5層。

3. 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米。

4. 測量時間：通常35秒-180秒。

5. 樣品蕞大尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。

6. 測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。

7. 可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結構而定。

8. 同時定量測量8個元素。

9. 定性鑒定材料達20個元素。

產品參數：

· X射線光管  微聚焦，高性能，鎢靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm

· 高電壓 50千伏（1.2毫安）可根據軟件控制優化

· 探測器  高分辨氣體正比計數探測器

· 準直器  單一固定準直器直徑0.3mm

· 樣品倉  330 x 200 x 170 mm

· 樣品臺  手動Z軸樣品臺

· 電源    230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W

· 儀器尺寸  350 x 420 x 310 mm 

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